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电路中的两种类型的介电频谱
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电路中的两种类型的介电频谱
电介质的极化主要来自三个方面:
电子位移极化;
离子位移极化;
固有偶极子的取向极化;
不同频率下,各种极化机制贡献不同,使各种材料有其特有的介电频谱。
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下面证明在介质中以热的形式所消耗的能量与2()有关。
因为电容器中的电流强度为:
其中为电容器板上的自由电荷面密度。
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在单位体积内介质每单位时间所消耗的能量为:
可见,能量损失与sin()成正比。
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损耗因子 loss factor
因此,sin()称为损耗因子;因为当很小时,sin()tan(),所以有时也称tan()为损耗因子。
因为介质损耗与电场强度的频率、温度以及极化机制等都有关系,是一个比较复杂的问题。介质损耗大的材料,做成元件质量也差,有时甚至不能使用。所以介质损耗的大小,是判断材料性能的重要参数之一。
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注意:在某一频率范围的介质损耗小,并不等于在所有频率范围内的介质损耗都小。
例如,铌酸锂LiNbO3晶体在室温(20C)时的损耗因子tan()与频率的关系如图2-18所示。从图中可以看出,在频率为107Hz附近损耗很大,因此设计器件时就应考虑避开此频率附近。如选用LiNbO3晶片做纵向振动时就不应选择大小约为7.67.625.4的晶片。
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图2-18 铌酸锂晶体的损耗因子与频率的关系(25C)
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设在时间间隔u到u+du之间,对介质施加强度为E(u)的脉冲电场。产生的电位移可以分为两部分:一部分是它随电场瞬时变化,用光频电容()表示。
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另一部分则由于极化的惯性而在时间tu+du是继续存在。如果在不同的时间有几个脉冲电场,则总的电位移为各脉冲电场产生的电位移的叠加。如果施加的是一起始于u=0的连续变化的电场,则求和应该为积分
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式中(t-u)为衰减函数,它描写电场撤除后D随时间的衰减。显然当t时, (t-u) 0.
现在考虑施加周期性电场E(t)=E0cos t,并将变量u改为x=t-u.如果电场保持足够长的时间,致使t大于衰减函数趋于零的特征时间,则积分上限x可取为无穷大。
在此情况下,D也必然随时间周期性变化
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可写为
于是可将(6.1)式写成
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由此得到
式中r()时光频电容的实部。此时可统一写为下边的式子:
$$