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晶体二极管及其基本电路
04 六月 2023
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晶体二极管及其基本电路
PN结加上电极引线和管壳就形成晶体二极管。
图1-13 晶体二极管结构示意图及电路符号
P区
N区
正极
负极
(a)结构示意图
(b)电路符号
P
N
正极
负极
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PN结的电容特性
PN 结的耗尽区与平板电容器相似,外加电压变化,耗尽区的宽度变化,则耗尽区中的正负离子数目变化,即存储的电荷量变化。
多子扩散在对方区形成非平衡少子的浓度分布曲线偏置电压变化分布曲线变化非平衡少子变化电荷变化。
一、 势垒电容(Barrier Capacitance)
二、扩散电容(Diffusion Capacitance)
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Cj= CT + CD
结 论
Cj ≈ CD ,其值通常为几十至几百pF;
Cj ≈ CT,其值通常为几至几十pF。
因为CT和CD并不大,所以在高频工作时,才考虑它们的影响。
正偏时以CD为主,
反偏时以CT为主,
(如:变容二极管)
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1-2-5 PN结的温度特性
一、温度升高,伏安特性曲线正向特性向左移,反向特性向下移。
1.保持正向电流不变时,温度每升高1℃,结电 压减小约2~2.5mV,
即
Δu/ΔT≈-(2~2.5)mV/℃
2.温度每升高10℃,反向饱和电流IS增大一倍。
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二、 温度升高到一定程度, PN 结不存在。
对硅材料约为(150~200)℃;对锗材料约为(75~100)℃。
由本征激发产生的少子浓度有可能超过掺杂浓度,使得杂质半导体变得与本征半导体一样。
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1-3-1 二极管特性曲线
二极管特性曲线与PN结基本相同,略有差异。
图1-14 硅二极管伏安特性曲线
i /mA
u/V
(A)
0
10
20
30
-5
-10
-0.5
0.5
特性曲线是描述器件性能的图形表示。
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一、正向特性
硅: UD(on) = 0.5~0.6V;
1.导通电压或死区电压
2. 曲线分段:
锗: UD(on) = 0.1~0.2V。
3. 小功率二极管正常工作的电流范围内,管压降变化比较小。
指数段(小电流时)、直线段(大电流时)。
一般硅:0.6~0.8V,锗:0.2~0.3V。
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二、反向特性
2.小功率二极管的反向电流很小。
一般硅管<0.1A,锗管<几十微安。
1.反向电压加大时,反向电流也略有增大。
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1-3-2 二极管的主要参数
一、直流电阻(静态电阻)
图1-15 二极管电阻的几何意义
ID
UD
Q1
RD=UD / ID
RD 的几何意义:
i
u
0
Q2
(a)直流电阻RD
Q点到原点直线斜率的倒数。
RD不是恒定的,正向的RD随工作电流增大而减小,反向的RD随反向电压的增大而增大。
参数是描述器件性能的技术指标。
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1.正向电阻:几百欧姆;
反向电阻:几百千欧姆;
2.Q点(quiescent)(直流工作点、静态工作点)不同,测出的电阻也不同;
如:用万用表欧姆档的不同档位(×10、×100、×1K等)测得的阻值是不同的。
结 论
因此,PN结具有单向导电特性。
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更确切地讲:二极管交流电阻rD= rj + rs
------ PN结电阻
rs
------ 体电阻+引线接触电阻
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