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“四翼”检测评价(七)
金属键金属晶体
基础性一强调基础扎实
1.下列关于金属键或金属的性质说法正确的是()
①金属的导电性是由金属阳离子和自由电子的定向运动实现的②金屈键是金屈阳离
子和自由电子之间存在的强烈的静电吸引作用③第三周期金属元素Na、Mg、A山的沸点依
次升高④金属键没有方向性和饱和性,其中的电子在整个三维空间运动,屈于整个金属
A.①②
B.②③
C.③④
D.①④
解析:选C金属的导电性是因为在外加电场的作用下,自由电子发生定向运动实现的,
而金属阳离子并没有运动,因此①错误:金属健是金属阳离子和自由电子之间存在的强烈的
相互作用,并非仅存在静电吸引作用,因此②错:一般情况下,金属阳离子所带电荷越多,
半径越小,金属键越强,金属单质的熔、沸点越高,硬度越大,Na+、Mg2+、A+三种离
子的离子半径依次减小、离子所带电荷依次增多,金属键越来越强,因此③正确:金属键的
特征:一是没有方向性和饱和性,二是所有电子在三维空间运动,属于整个金属,因此④正
确。
2,在金屈中,自由电子与金屈离子或金属原子的碰撞有能量传递,可以用此来解释的
金属的物理性质是()
A.延展性
B.导电性
C.导热性
D.硬度
解析:选C金属晶体中,自由电子获得能量后,与金属离子或金属原子的碰撞过程中
实现了能量传递,把能量从温度高的区域传到温度低的区域,体现了金属的导热性。
3.判断下列各组金属熔点高低顺序,其中正确的是()
A.Mg>Al-Ca
B.Ab-Na>Li
C.APMg>Ca
D.Mg>Ba>Al
解析:选C外围电子数:A>Mg=Ca=Ba>Li=Na,金属阳离子半径:r(Ba+)
>r(Ca2+)>rNa+)PMg2+)>(A3+)Pri+),金属键由强到弱:APMg>Ca,故C正确,A、
D错误:B项,Li>Na。
4.铝硅合金(含硅13.5%)在凝固时收缩率很小,因而这种合金适合铸造。有下列三种品
体:①铝;②硅;③铝硅合金。它们的熔点由低到高的顺序是()
A.①②③
B.②①③
C.③②①
D.③①②
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解析:选D合金的熔点一般比其各成分金属的熔点都要低,所以最低的是铝硅合金。
硅晶体是熔点极高的共价晶体。
5.下列能够表示出每个晶胞中所含实际微粒个数的面心立方晶胞的是(
照粥
解析:选BA项和B项是面心立方品胞,其中B项是经过切割后的面心立方晶胞,它
能表示出此晶胞中所含微粒的实际数目,C项和D项是体心立方晶胞。
综合性一强调融会贯通
6.关于钾型品体的结构如劲的叙述中正确的是(
A.是密置层的一种堆积方式
B.晶胞是六棱柱
C.每个晶胞内含2个原子
D.每个晶胞内含6个原子
解析:选C钾型晶体是非密置层的一种堆积方式,为体心立方晶胞,其中有8个微粒
在顶点、一个微粒在体心,晶胞所含原子数为8×18十1=2。
7.如图所示是晶体结构中具有代表性的最小重复单元(晶胞的排列方式,图中O一X、
●一Y、⑧一乙。其对应的化学式不正确的是(
问每
A.XY
B.XY
C.XY
D.XYZ
解析:选BA图中X、Y原(离)子的位置、数目完全等同,化学式为XY,正确:B图
化学式应为XY,错误:C图中X的数目:4×18+1=32,Y的数目:4×18=12,化学式
为X,Y,正确:D图中X的数目:8×18=1,Y的数目:6×12=3,Z位于内部,数目为1,
化学式为XY3Z,正确。
8.[双选金属钾、铜的部分结构和性质的数据如下表所示,则下列说法错误的是()
金属
K
Cu
原子外围电子排布
4s1
3d104s1
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原子半径pm
255
128
原子化热(kJ-mol一)
90.0
339.3
熔点/℃
63.4
1083
A.单位体积内自由电子数目:K<Cu
B.金届键强弱顺序为K>Cu
C.金属的硬度大小顺序为K<Cu
D.两者最外层电子数目相等,因此其金属键的强弱取决于原子半径大小
解析:选D决定金属健强弱的因素是单位体积内自由电子数目和原子半径的大小,
金属键越强,金属的熔、沸点越高,硬度越大:金属单位体积内自由电子的数目则取决于金
属的外固电子数目,而不是金属的最外层电子数目。
9.[双选]铁镁合金是目前己发现的储氢密度较高的储氢材料之一,其晶胞结构如图所示
(黑球代表Fe,白球代表Mg)。则下列说法不正确的是()
A.铁镁合金的化学式为MgFe
B.晶体中存在的化学键类型为金属键
C.该品胞中Fe原子的配位数为