内容正文:
第 5 章 原子发射光谱法 (Atomic Emission Spectrometry ,AES)
§5. 1 AES的基本原理
§5.2 AES的光源种类及应用特点(重点、 难点)
§5.3 AES检测方式及仪器类型
§5.4 AES定性、 定量分析方法
ICP-AES
本章要点
一、 原子发射光谱的产生
在热或电能激发下, 气态原子或离子的核外层电子获取足够的能
量后, 就会从基态跃迁到各种激发态, 处于各种激发态不稳定的电子 (寿命<10-8s)迅速回到低能态时, 就要释放出能量, 若以电磁辐射的形
气态激发态原子 、 离子的 核外层电子, 迅速回到低 能态时以光辐射的形式释 放能量 。 原子发射光谱
线状光谱
电能、 热能激发 气态原子、离子 的核外层电子由 基态跃迁至高能 态。
5. 1 AES基本原理
式释放能量, 既得到原子发射光谱。
Σhvi
E0
E3
E2
E1
二、能级图: 由各种高能级跃迁到基态或低能级时发射的一系列光谱线。
5. 1 AES基本原理
Na (1s)2 (2s)2 (2p)6 (3s)1
原子或离子的能级很多并且不同元素结构不同, 因此对特
定元素的原子或离子可产生一系不同波长的特征光谱(定性分 析), 并可以测定此特征谱线的强度(定量分析)。
元素不同 → 电子结构不同 → 光谱不同 → 特征光谱
AES的特点(与AAS相比):
• 定性、定量分析(AAS 、AFS 多用于定量分析)
• 多元素同时分析检测 (AAS 单个元素)
5. 1 AES基本原理
三、谱线强度
电子在0 i 两能级间跃迁, 产生的谱线强度可表示为:
若激发是处于 热力学平衡状态时,单位体积的基态原子数N0 与
激发态原子数Ni 之间遵守Boltzmann 分布定律:
gi 、g0 — 激发态和基态的统计权重
Ei — 激发电位
k—Boltzmann常数
T— 温度K
Ni 单位体积内高能态原子数
Ai 为跃迁几率
υi 为发射谱线的频率
h 为Planck 常数
Ii = N0 gi/g0 e-Ei/kTAihυi
5. 1 AES基本原理
Ni = N0 gi/g0 e-Ei/kT
此式为谱线强度的基本公式。
将( 2 ) 代入( 1 )得:
Ii= NiAihυi
(1)
(2)
影响谱线强度的因素: Ii = N0 gi/g0 e-Ei/kTAihυi
(1) 统计权重 g:I ∝g ,g=2J+1 J为光谱支项, 即内量子数
(2) 跃迁几率Ai: A 一般在10-8 ~10-9 s-1
(3) 激发电位Ei: Ei ↑ , 处于该能量状态的原子数↓ , 故存在 Ei ↑ , I ↓
(4) 激发温度: T ↑ , I ↑ ;但T ↑ , 电离原子数也↑ , 导致原子线I↓
(5) 基态原子数 N0: I ∝ N0 ; 又N0 ∝ c, 因此 c ↑ , I ↑
前三项由待测物原子自身的性质决定,
如核电荷数、 外层电子 、 轨道状态等。
影响谱线强度及其稳定性最重要的的因
素是温度 。 因此 ,AES分析中要严格控制 好温度。
三、谱线强度
光谱)
• 分光
• 分析检测(定性和定量)
5.2 AES的光源种类及应用特点
• 化合物解离(基态原子) 激发(激发态原子) 基态(发射
AES仪器 主要组成:
光源 (样品)
AES 分析的一般步骤:
单色器
检测器
• 光源要求: 比较稳定, >5000K, 重现性好, 背景小, 谱线 简单, 安全
原子化喻M+ N 激发喻 M* + N* 发射原子光谱 喻M+ N 激发喻 M(m+)* + N(n-)* 发射离子光谱 喻 Mm+ + Nn-
使试样蒸发、解离、原子化、激发、跃迁产生光辐射。
★ AES光源的作用 Mm Nn (s) 喻Mm Nn (g) 喻Mm+ + Nn-
5.2 AES的光源种类及应用特点
• 光源类型:
一、直流电弧: 接触引燃,二次电子发射放电 (了解)
直流电作为激发能源,电压150 ~380 V, 电流5~ 30A;
两支石墨电极作为阴阳两极,试样放臵在一支电极(下电极)的凹槽
内; 使分析间隙的两电极接触或用导体接触两电极, 通电, 电极尖端被烧 热, 点燃电弧,然后使电极相距4 ~ 6mm;
电弧点燃后, 热电子流高速通过分析间隔冲击阳极, 产生高热, 试样
蒸发并原子化, 电子与原子碰撞电离出正离子冲向阴极 。 电子 、原子 、 离