内容正文:
第12章
化学基础知识的延伸与应用
12.1 配位场理论简介
12.2 晶体的缺陷
12.3 酸碱溶剂、正负和软硬理论简介
本章主要内容
12.4 水体污染及其处理
12.5 电解及其应用和金属的腐蚀与防护
12.6 人体中的化学元素
12.7 物质的化学组成
12.1 配位场理论简介
是晶体场理论和分子轨道理论的结合,
用以解释配位化合物中的成键情况,
考虑配体与中心原子之间一定程度的共价键合,
解释晶体场理论无法解释的光谱化学序列等现象。
配位场理论选取的模型都为八面体构型,
配位场理论:
六个配体沿三维空间坐标轴正负指向中心原子,以方便理解。
[Ti(H2O)6]3+的σ分子轨道能级图
反键轨道
成键轨道
非键轨道
分裂能
1.σ配位键
八面体配合物中,六个配体从x 、y 和 z正负轴指 向中心原子,因此凡是有σ对称性的外层轨道都可能与配体孤对电子的外层σ轨道重叠形成σ配位键。
2.π配位键
中心原子含有π对称性的轨道包括dxy、dxz和 dyz,可以与配体π对称性的轨道组成分子轨道,形成 π配位键。
◆ 在纯σ配合物中,eg是σ*反键轨道,t2g是非键 轨道。
◆对于π轨道充满电子形成的配合物,eg保持σ*
反键轨道,t2g变为π*反键轨道,分裂能值变小。
◆对于有空π*轨道的配体形成的配合物,eg仍保 持σ*反键轨道,t2g变为π成键轨道,分裂能值增大。
3.自旋及光谱化学序列
分裂能Δo(o代表八面体)的影响因素:
(2) 配体与中心原子之间的π相互作用。
若配体为强的π电子接受体,可形成强的反馈π 键,则Δo 值增大。
(1) 配体与中心原子之间σ配键的强弱。
若配体为强的σ电子给予体,则Δo值较大;反之较小。
d4-d7的金属配合物自旋态会受分裂能大小影响:
电子优先成对排到非键轨道中
◆高自旋态:
较大的分裂能常导致低自旋态,而较小的分 裂能则常导致高自旋态。
◆低自旋态:
电子优先进入反键轨道,而后成对
I− < Br− < S2− < SCN− < Cl− < NO3− < N3− < F− < OH− < C2O42− < H2O < NCS− < CH3CN < py (吡啶) < NH3 < en (乙二胺) < bpy (联吡啶) < phen (1,10-邻菲啰啉) < NO2− < Ph3P(三苯基膦) < CN− < CO
光谱化学序列由光谱数据衍生出来,根据分裂能Δo的大小来衡量配体的“强度”。
弱场配体:π电子给予体(如I−)
强场配体:π电子接受体(如CN−和CO)
中间场配体:π相互作用很弱(如H2O或NH3)
12. 2 晶体的缺陷
定义:实际晶体中粒子排列与理想晶体的差别
理想完整晶体中,粒子按一定的次序严格地处
在空间有规则的、周期性的格点上。
实际的晶体中,往往存在偏离了理想晶体结构
的区域。
有的是在晶体生长过程中,由于温度、
压力、介质组分浓度等变化而引起的;
有的则是在晶体形成后,由于质点的热运动或
受应力作用而产生的。
原因
12. 2. 1 晶体缺陷的几种类型
1. 点缺陷
只涉及到大约一个原子大小范围的晶格缺陷
(1)肖特基缺陷
由于晶体本身结构不完善所产生的缺陷
Na+
Cl-
Cl-空位
Na+空位
正、负离子按化学计量比同时空位
一种离子(或原子)移向晶格间隙,然后留下空位
Ag+
移位正离子
正离子空位
Br-
(2) 弗伦克尔缺陷
(3) 化学杂质缺陷
Ag+
Ag+
Ag+
Ag+
Ag+
Ag+
Cl-
Cl-
Cl-
Cl-
Cl-
Cl-
Cl-
Cl-
Cd2+
空位
使晶体保持电中性
高电荷的杂质离子引入
2. 线缺陷
在晶格结点中,由于空缺一系列原子而产生的
晶体缺陷。
3. 面缺陷
线缺陷在平行位置上的扩展就形成面缺陷
4. 体缺陷
晶体内部含有空洞、沉淀或杂质包裹物等所造
成的缺陷。
12. 2. 2 晶格缺陷对物质性质的影响
晶体缺陷的类型不同,
对晶体性质的影响也不同。
点缺陷
影 响
晶体的功能性质
1. 晶格点缺陷对物质性质的影响
利用晶体的点缺陷可制造固体电解质
使晶体的光学性能、化学性能等发生巨大的变化。
使离子晶体能够导电
研究晶格缺陷对物质性能的影响已成为当
今材料科学研究的一个重要领域
2. 晶格面缺陷对晶体物质性质的影响
多晶体系中晶面熔点低,扩散速度快。
晶体中存在严重的面缺陷时,会产生多晶。
面缺陷线缺陷
影 响
使晶体的机械性能降低
3. 晶格缺陷使化合物组成偏离整比性
形成原因:
晶体中的某些元素呈现多余或不足
(1) 金属具有多种氧化数
Fe2+
Fe2+
Fe2+
Fe2+
Fe2+
Fe2+
S2-
S2