内容正文:
第六章 常用半导体器件
学习目的:
1.了解二极管的结构、符号、特性和主要参数。
2.了解硅稳压二极管、变容二极管、发光二极管、光电二极管等各种二极管的外形特征、功能和应用。
3.能用万用表检测二极管的极性和好坏。
4.了解晶体三极管结构、符号和主要参数,能识别引脚,并合理使用。
5.能用万用表判别三极管的类型、引脚及三极管的好坏。
第六章 常用半导体器件
二极管
1
三极管
2
1.半导体材料
6.1 二极管
一、 半导体的基本知识
导电性能介于导体与绝缘体之间材料,我们称之为半导体。
常用的半导体材料有:
元素半导体,如硅(Si)、锗(Ge)等;
化合物半导体,如砷化镓(GaAs)等;
掺杂或制成其它化合物半导体材料,如硼(B)、磷(P)、锢(In)和锑(Sb)等。
2.本征半导体
纯净的半导体称为本征半导体。
6.1 二极管
一、 半导体的基本知识
Si
Si
Si
Si
硅单晶中的共价健结构
晶体中原子的排列方式
共价健
3.杂质半导体
6.1 二极管
一、 半导体的基本知识
在本征半导体中掺入某些微量元素作为杂质,可使半导体的导电性发生显著变化。掺入的杂质主要是三价或五价元素。掺入杂质的本征半导体称为杂质半导体。
3.杂质半导体
6.1 二极管
一、 半导体的基本知识
(1)N型半导体
掺入五价杂质元素(如磷)的半导体称 为N型半导体
Si
Si
Si
Si
p+
多余
电子
磷原子
3.杂质半导体
6.1 二极管
一、 半导体的基本知识
(1)P型半导体
掺入三价杂质元素(如硼)的半导体为P型半导体。
Si
Si
Si
Si
B–
硼原子
空穴
4.PN结的形成
6.1 二极管
一、 半导体的基本知识
在P型半导体和N型半导体结合后,由于N型区内电子很多而空穴很少,而P型区内空穴很多电子很少,在它们的交界处就出现了电子和空穴的浓度差别。这样,电子和空穴都要从浓度高的地方向浓度低的地方扩散。
4.PN结的形成
6.1 二极管
一、 半导体的基本知识
扩散的结果就使P区一边失去空穴,留下了带负电的杂质离子,N区一边失去电子,留下了带正电的杂质离子。这些不能移动的带电粒子在P和N区交界面附近,形成了一个很薄的空间电荷区,就是所谓的PN结。
5.PN结的单向导电性
6.1 二极管
一、 半导体的基本知识
当外加电压使PN结中P区的电位高于N区的电位,称为加正向电压,简称正偏;反之称为加反电向压,简称反偏。
PN结加正向电压时,呈现低电阻,具有较大的正向扩散电流。
PN结加反向电压时,呈现高电阻,具有很小的反向漂移电流。
由此可以得出结论:PN结具有单向导电性。
1.半导体二极管的结构和类型
6.1 二极管
二、半导体二极管
在PN结上加上引线和封装,就成为一个二极管。按半导体材料不同二极管分为硅管和锗管。
1.半导体二极管的结构和类型
6.1 二极管
二、半导体二极管
二极管按结构不同分为点接触型、面接触型和平面型(图a、b、c)。
二极管符号如图d所示。
2.二极管的伏安特性
6.1 二极管
二、半导体二极管
伏安特性曲线
硅管0.5V,锗管0.1V。
反向击穿
电压U(BR)
导通压降
正向特性
反向特性
特点:非线性
硅0.7V,锗0.3V
U
I
死区电压
P
N
+
–
P
N
–
+
反向电流
Is在一定电压
范围内保持
常数。
Is
3.二极管的主要参数
6.1 二极管
二、半导体二极管
(1)额定整流电流IF
二极管的电流平均值不能大于这一数值,否则会使二极管中PN结的温度超过允许值而损坏。
(2)最高允许反向工作电压UR
一般将二分之一左右的反向击穿电压U(BR)值定义为UR。
(3)反向电流IR
反向电流越小,管子的单向导电特性越好。
4.测试二极管的好坏
6.1 二极管
二、半导体二极管
初学者在业余条件下可以使用万用表测试二极管性能的好坏。测试前先把万用表的转换开关拨到欧姆档的R×1K或R×100档位(注意不要使用R×1或R×10档,以免电流过大烧坏二极管),再将红、黑两根表笔短路,进行欧姆调零。
4.测试二极管的好坏
6.1 二极管
二、半导体二极管
(1)正向特性测试
二极管的正向特性测试如图所示,
用万用表的黑表笔(表内正极)接触二极管的正极,红表笔(表内负极)接触二极管的负极:
1).若表针不摆到0值而是停在标度盘的中间,这时的阻值就是二极管的正向电阻,一般正向电阻越小越好。
2).若正向电阻为0值,说明管芯短路损坏,不能使用。
3).若正向电阻接近无穷大值,说明管芯断路,不能使用。
P
N
–
+
4.测试二极管的好坏
6.1 二极管
二、半导体二极管
(2)反向特性测试
二极管的反向特性测试如图所示,
用万用表的红表笔接触二极管的正极,黑表笔接触