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半导体的真实半导体的能带结构
半导体的真实半导体的能带结构
1.金刚石(硅、锗)、闪锌矿结构半导体(Ⅲ-Ⅴ,Ⅱ-Ⅵ,Ⅰ-Ⅶ化合物)
①高价带:产生于满p壳层阴离子(或与d壳层混合),
●带顶 k=0.
(四重简并)
(两重简并)
杂化轨道形成的成键态。
●最高两个带称为重穴hh带和lh带.在k=0
处Γ点两带简并,在
简并消除,散射
关系为
其中“+”和“-”号分别对应重穴hh带和lh带.
等能面不是球面(除非C=0}.但通常仍可近
似为球面.对应原子
态.
描述有效质量.
空穴的色散和有效质量都与波矢方向有关.
●第3个能带散射关系为
等能面为球形.
对应原子
态.
②最低导带:空s壳层阳离子,或
其中 Δ为自旋轨道耦合分裂值,随着原子
序数增加而增加。
●CuCl中价带因近邻d轨道影响而反置。
化轨道形成的反成键态。
杂
△某些直隙材料
导带底与
价带顶间跃迁是禁戒的,因为这两带具有
相同的宇称.这个特性对光学性质有显著
影响.
●等能面
●间接(隙)与直接(隙)半导体
△间接:Si, Ge,AlAs,GaP,AgBr,AlP等.
直接:InAs,GaAs,GaSb,InP等.
Ge导带最小值在Λ向 L点;
Si导带最小值在Δ方
向X点附近.
Γ点处各向同性,且为抛物线.
导带最小值
附近的能带.
△间接(隙)半导体能谷
其中
为
方向的纵向有效质量,
为两个垂直
方向的横向有效质量.
间接半导体:多谷;
直接半导体:单谷。
L点:
X点附近
直隙半导体 GaAs
极小值
点与附近
极小值点能量相近,
在强电场作用下,电
子易从低
的
点.
转移到较高
近极小值处—Gunn效应.
的附
*电子迁移率
$$