内容正文:
直隙半导体中EHP
直隙半导体中EHP
1. 发光谱
推动EHD朝着这些的方向传播。
B图中轮廓线的光强相等。
上图中对样品施加非均匀应力。由于
与应力有关,于是在样品内部存在
梯
度,使得某处
最小。激发所产生的激
子和小EHD在
梯度影响下,在
最小
处积累,形成一个宏观EHD,称为
滴。
●EHP产生强受激辐射,增益可达
●发光谱宽度随着泵浦强度增加而增加。
2.吸收谱
●在
区域EHP产生受激辐射。
●电子-空穴复合速率为
整理可得
要使r>0,必须满足
这意味着
因此,增益
在
下产生.
●自发辐射强度及增益
其中
而
假设跃迁几率与
无关,
包含跃迁几率和其它系数。
●两点修正:
■终态衰减:
因载流子寿命减小导致谱线加宽.
■振子强度增强:
空穴的库仑作用较强.
处电子与
3.透射谱
●泵浦光频带窄而强度高,探测光频带宽而强度低.
泵浦光
不存在时,能隙
宽度为2.58eV.泵浦光激发下,激子消失,能隙宽度为2.49eV,化学势为2.54 eV.
增加,“吸收边”变斜且红移(化学势↓).
比较
●受激辐射产生。随着温度的升高,受激辐射减弱,这是由于粒子数反转更难以产生。
●增益(ns激发)
■随着泵浦强度增加,增益增加且变宽(态密度
■
但是EHL没有形
成,原因在于载流子寿命太低(100ps-200ps).
●FP模兰移,间隔变大,折射率减小。
不是常数),能隙、化学势减小.
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