2022-2023学年高二物理竞赛课件：电路的位相驰豫时间测量

电路的位相驰豫时间测量 γ为阻尼,可以从反射谱、透射谱、折射 率、介电函数的分析中导出. 电路的位相驰豫时间测量 1. 光子回声 22.2.1 光子回声技术 最低态激子分析可得, 相应的 ●对低温下 高质量样品反射谱中 ①入射脉冲 实验中第一个脉冲 为 脉冲，之后 时刻第二个脉冲 为 脉冲，与第一个脉 冲频率相同，传播方向不同。 ②非均匀加宽样品 每个振子固有频率 和 都不相同. ③机制 ●第一个 脉冲入射后，振子开始失相， 并且每个振子失相情况不同。 ●经历 时间后，第二个 脉冲入射样品， 振子复相，即失相逆过程,结果是所有振 子由经历了 时间后位相相 同，发射脉冲。 （光子回声）. ④出射光脉冲强度 分析光子回声强度，可以确定 2. 半导体中光子回声 ①在低温和低密度条件下，半导体中大多数跃迁都是非均匀加宽的。 ●对于自由电子和自由激子极化激元， 只要波矢不同，能量就不同。 ●束缚激子受杂质周围环境影响，能量有所不同。 ●局域态激子非均匀加宽更明显。 （在高温和高密度条件下， 均匀加宽的跃迁.） 更小，产生 ②CdSe 温度增加， 子间散射加剧。 减小，这是由于激子与声 $$