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晶格节点的强系离子
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晶格节点的强系离子
在离子键结合的电介质中,处在晶格结点上的正、负离子,能量最低,也最稳定,离子之间的相互作用力很强,离子被牢固地束缚在晶格结点上,称为强系离子。
在电场作用下,这些强系离子只发生电子位移和离子位移极化。
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在这里只对下列两种典型的情形加以简单介绍:
热离子弛豫极化 thermal ion relaxation
空间电荷极化 space charge
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弱系离子
但是当电介质中含有杂质或存在缺陷时,这些杂质离子或处在缺陷位置附近的离子相应的能量状态比较高,是不那么稳定的,容易被激活,这类离子被称为弱系离子。
如在无定形体玻璃电介质中,为了改善某些性能或工艺条件而加入的一价碱金属离子Na+、K+、Li+等,这些离子都是弛豫极化的来源。
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弱系离子在晶体中被相当高的势垒限制住,它只能在缺陷区域附近振动。缺陷区域的势垒(即离子的激活能)远小于正常格点区的势垒, U>U,如图所示。
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势垒的高度和位置取决于缺陷的性质和数量。在电场作用下,弱系离子的运动仍是有限的,与离子位移极化相比,运动的距离要大的多,已经超出了离子的距离,但是不能贯穿整个电介质,是一种极化,而且极化完成的时间在10-2 10-10秒之间。
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现在假设弱系离子的势垒高度为U,平衡位置A和B之间的距离为,如图所示。当离子的热运动能量超过其激活能时,便能越过势垒高度的限制发生跃迁。
未加上电场时,离子在A、B两个位置的能量状态时相等的。假设离子在平衡位置的热振动频率为,根据波尔兹曼的能量分布律,在单位时间内,离子由A位置向B位置或从B位置向A位置跃迁的几率是相等的。
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式中,AB为热离子从A位置到B位置的跃迁几率,kB为波尔兹曼(Boltzmann)常数,kB=1.3810-23J/k,T为绝对温度。
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在没有外电场作用时,离子将在A、B位置之间来回跃迁。平均来说, A、B位置上的离子数目是相等的。若在单位体积中的弱系离子数为N,沿三维空间每一轴向运动的离子数为N/3,其中一半沿正向、一半沿负向运动。所以从A位置向B位置跃迁或从B位置向A位置跃迁的离子数为N/6。从宏观上来看,离子不存在定向跃迁,热离子的随机分布不会被破坏,宏观电矩为零。
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现在,沿x方向加上电场,离子在电场中的势能曲线沿x轴正方向的变化如图所示。离子的势能曲线是原势能曲线与斜线之和。 离子由A位置跃迁到B位置的势垒高度为U-U,由B位置跃迁到A位置的势垒高度为U+U,其中U为加上电场以后,在距离/2上引起的势能变化。若离子的荷电量为q,则U=qE/2。
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