内容正文:
晶格常量以及弹性常量
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利用相变前后的晶格常量以及适当的弹性常量,Arlt算的切变能量密度和压缩应变能量密度分别为:
其中,Nsh和N2均为小于1的常量,它反映周围的约束对晶粒应变的影响。
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这一实验事实可以用溶质产生的空间电荷场来说明。假设Y取代LiNbO3或者LiTaO3中的Nb或Ta。由于溶质原子(Y3+)与基质原子(Nb5+或Ta5+)的电价不同,晶体中将出现电荷失配。晶体中可移动的点缺陷可屏蔽这种电荷失配,但由于点缺陷的迁移率和扩散系数与溶质原子的不同,溶质的浓度分布将在晶体中产生一空间电荷场
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其中Cs为溶质浓度,Ds和Dd分别为溶质(solute)原子和点缺陷(point defects)的扩散系数。s和d分别是它们的迁移率。此式表明:溶质浓度梯度的正负决定了空间电荷场的方向。
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在这种系统中,自由能中包含有电场能,忽略退极化能,并因极化轴为z轴,畴结构的自由能可写为
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相应的Euler-Lagrange方程为:
Espz为空间电荷场沿z轴的分量。
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无空间电荷时,P与z的分布
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空间电荷场较强时,极化与之同方向才能使自由能最低,所以溶质浓度梯度调制了电畴的正负。
图5-6中所示浓度最大值位置并不与畴壁位置一致,因为该处浓度梯度为零,极化强度无法反转,只有梯度足够大时才能反转。
生长时提拉方向为+x方向,所以畴壁出现的位置如图所示滞后于浓度最大值的位置。
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陶瓷(ceramics)中的电畴
陶瓷中任意一个晶粒受到周围晶粒的约束,不能自由形变。
伴随自发极化的出现,晶粒中出现大的应变能,即使有足够的可移动的空间电荷可以屏蔽自发极化造成的退极化场,晶粒仍不会是单畴的 。
降低应变能是陶瓷晶粒中出现电畴的主要原因。
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为了讨论方便,在忽略退极化场的前提下,讨论四方相BaTiO3陶瓷晶粒的电畴。实验观察到小晶粒样品中出现层状畴,大晶粒样品中出现带状畴结构。如下图所示
单畴 -> 层状畴 -> 带状畴
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考虑一立方形晶粒,晶轴a和c相对于晶粒的立方边转动了45°。如果晶粒中的自发极化强度是均匀的,ac平面将发生如图所示的切应变,但在b轴上将缩短。
由于周围晶粒的作用,应变不能自由发生,于是晶粒中将出现应变能。
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为了降低(剪切)应变能(shear),晶粒中将形成90°畴。
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