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铁电薄膜电容率与厚度的关系
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从热力学理论出发计算铁电薄膜电容率与厚度的关系。设铁电薄膜表面积为S,厚为L,取坐标轴Z轴沿厚度方向,原点在中心,则单位面积的自由能为式(6.61)。
这里我们假设体材料呈二级相变,>0。式中Eext和Ed分别为外场和退极化场。因为我们考虑实际应用中的情况,即极化垂直膜面,所以退极化场不能忽略。
铁电薄膜电容率与厚度的关系
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图6.19示出了BaTiO3电容率随温度的变化。曲线1-3是在疏松压块上得到的曲线,曲线4-7是在陶瓷样品上测得的。其中样品的晶粒大小如表6.4所示。
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图6.19BaTiO3电容率随温度的变化。曲线1-3是在疏松压块上得到的,曲线4-7是在陶瓷样品上测得的。
样品编号 晶粒尺寸(nm)
1
2
3
4
5
6
7 50
105
130
300
1000
2000
4200
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从图中可以看出,居里峰的位置随着晶粒减小而降低,且峰高急剧减小。在晶粒为50nm和105nm的样品中,居里峰消失,在晶粒为130nm时,仅有很微弱的居里峰。
X射线衍射表明,后两种样品在室温时c/a都在误差范围内等于一。由此看来,铁电临界尺寸可能在105nm附近,与早期文献所介绍的用X射线衍射得出的110nm相吻合。
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附带指出,由图6.19看到,当晶粒减小时,居里峰向低温方向移动,但两个铁电-铁电相变的温度则像高温方向移动,而且随着晶粒变小,最低温的正交-三角相变峰首先消失,其次是四方-正交相变峰消失,最后是铁电-顺电相变峰消失。
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自由能密度:
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假设薄膜的上下表面被有金属电极且处于短路状态,故表面处极化不连续形成的退极化场被电极上的自由电荷屏蔽,样品中只存在极化分布不均造成的退极化场,可推得退极化场为:
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在下面的计算中我们先忽略退极化场,然后再记入退极化场。忽略Ed时,由式(6.61)得出的Euler-Lagrange方程为:
边界条件为:
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设膜是对称的,即P+=P-=P1,在膜中心极化呈极值P(0),
式(6.63)的首次积分
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将式(6.64)代入(6.65)式,得P(0)与P1的关系为:
极化沿厚度的分布有下式确定:
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积分前的符号依赖于的符号。对(6.66)和式(6.67)进行数值计算可求出极化沿厚度的分布。在外场Eext=0和Eext 0两种情况下计算出P(z),即可得出极化率沿厚度的分布为
$$