2022-2023学年高二物理竞赛课件:电路存储器容量的扩展

2023-07-30
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电路存储器容量的扩展 电路存储器容量的扩展 1. 位数的扩展 存储器芯片的字长多数为一位、四位、八位等。当实际的存储系统的字长超过存储器芯片的字长时,需要进行位扩展。 位扩展可以利用芯片的并联方式实现,图9-15是用八片 1024×1 位的RAM扩展为1024×8 位RAM的存储系统框图。 图中八片RAM的所有地址线、R/W、CS分别对应并接在一起, 而每一片的I/O端作为整个RAM的I/O端的一位。 ROM芯片上没有读/写控制端R/W,位扩展时其余引出端的连接方法与RAM相同。 第9章 存储器和可编程逻辑器件 写入信息时,首先该单元被选中,V3、V4导通,Q和Q分别与两条位线连通。若需要写 0,则在位线D上加高电位,D上加低电位。这样D上的高电位经V4向C1充电,使Q=1,而C2经V3向D放电,使Q=0,于是该单元写入了 0 状态。 图9-14(b)是单管动态MOS存储单元,它只有一个NMOS管和存储电容器CS, CO是位线上的分布电容(CO>>CS)。 显然,采用单管存储单元的DRAM,其容量可以做得更大。写入信息时,字线为高电平,V导通,位线上的数据经过V存入CS。 第9章 存储器和可编程逻辑器件 读出信息时也使字线为高电平,V管导通,这时CS经V向CO充电,使位线获得读出的信息。设位线上原来的电位UO=0,CS原来存有正电荷,电压US为高电平,因读出前后电荷总量相等,因此有USCS=UO(CS+CO),因CO>>CS,所以UO<<US。例如读出前US=5V,CS/CO=1/50,则位线上读出的电压将仅有 0.1V, 而且读出后CS上的电压也只剩下 0.1V,这是一种破坏性读出。因此每次读出后,要对该单元补充电荷进行刷新,同时还需要高灵敏度读出放大器对读出信号加以放大。 第9章 存储器和可编程逻辑器件 图 9-15 RAM的位扩展连接法 第9章 存储器和可编程逻辑器件 2. 字数的扩展 字数的扩展可以利用外加译码器控制芯片的片选(CS)输入端来实现。图 9 -16 是用字扩展方式将四片256×8 位的RAM扩展为1024×8 位RAM的系统框图。图中,译码器的输入是系统的高位地址A9、A8,其输出是各片RAM的片选信号。若A9A8=01,则RAM(2)片的CS=0,其余各片RAM的CS均为1, 故选中第二片。只有该片的信息可以读出,送到位线上,读出的内容则由低位地址A7~A0决定。显然,四片RAM轮流工作,任何时候,只有一片RAM处于工作状态,整个系统字数扩大了四倍,而字长仍为八位。 ROM的字扩展方法与上述方法相同。 第9章 存储器和可编程逻辑器件 图 9-16 RAM的字扩展 第9章 存储器和可编程逻辑器件 9.2 可编程逻辑器件 9.2.1 概述 自20世纪60年代以来,数字集成电路已经历了从SSI、 MSI、LSI到VLSI的发展过程。数字集成电路按照芯片设计方法的不同大致可以分为三类: ① 通用型中、 小规模集成电路; ② 用软件组态的大规模、 超大规模集成电路, 如微处理器、 单片机等; ③ 专用集成电路(ASIC-Application Specific Integrated Circuit)。 ASIC是一种专门为某一应用领域或为专门用户需要而设计、制造的LSI或VLSI电路,它可以将某些专用电路或电子系统设计在一个芯片上, 构成单片集成系统。 第9章 存储器和可编程逻辑器件 9.2.2 低密度可编程逻辑器件 低密度可编程逻辑器件的集成密度约为每片 700 个等效门以下,它主要包括PROM、FPLA、PAL和GAL四种器件。 1. PLD电路的基本结构 1) PLD电路的表示方法 由于PLD内部电路的连接十分庞大,所以对其进行描述时采用了一种与传统方法不相同的简化方法。 第9章 存储器和可编程逻辑器件 图 9-17 PLD缓冲器表示法 PLD的输入、输出缓冲器都采用了互补输出结构,其表示法如图 9-17 所示。 第9章 存储器和可编程逻辑器件 PLD的与门表示法如图 9-18 所示。图中与门的输入线通常画成行(横)线,与门的所有输入变量都称为输入项,并画成与行线垂直的列线以表示与门的输入。列线与行线相交的交叉处若有“·”,表示有一个耦合元件固定连接;“×”表示编程连接;交叉处若无标记则表示不连接(被擦除)。 与门的输出称为乘积项P,图中与门的输出P=A·B

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