内容正文:
电路存储器
图 9-12 SRAM的基本结构
第9章 存储器和可编程逻辑器件
存储矩阵由许多存储单元排列组成,每个存储单元能存放一位二值信息(0或1),在译码器和读/写电路的控制下,进行读/写操作。
地址译码器一般都分成行地址译码器和列地址译码器两部分, 行地址译码器将输入地址代码的若干位A0~Ai译成某一条字线有效,从存储矩阵中选中一行存储单元;列地址译码器将输入地址代码的其余若干位(Ai+1~An-1)译成某一根输出线有效,从字线选中的一行存储单元中再选一位(或n位),使这些被选中的单元与读/写电路和I/O(输入/输出端)接通,以便对这些单元进行读/写操作。
第9章 存储器和可编程逻辑器件
读/写控制电路用于对电路的工作状态进行控制。CS称为片选信号,当CS=0时,RAM工作,CS=1时,所有I/O端均为高阻状态,不能对RAM进行读/写操作。称为读/写控制信号。R/W=1 时,执行读操作,将存储单元中的信息送到I/O端上;当R/W=0时,执行写操作,加到I/O端上的数据被写入存储单元中。
第9章 存储器和可编程逻辑器件
2) SRAM的静态存储单元
静态RAM的存储单元如图 9-13 所示,图 9-13(a)是由六个NMOS管(V1~V6)组成的存储单元。V1、V2构成的反相器与V3、V4构成的反相器交叉耦合组成一个RS触发器,可存储一位二进制信息。Q和Q是RS触发器的互补输出。V5、V6是行选通管,受行选线X(相当于字线)控制,行选线X为高电平时Q和Q的存储信息分别送至位线D和位线D。V7、V8是列选通管,受列选线Y控制,列选线Y为高电平时,位线D和D上的信息被分别送至输入输出线I/O和I/O,从而使位线上的信息同外部数据线相通。
第9章 存储器和可编程逻辑器件
图 9-13 SRAM存储单元
(a) 六管NMOS存储单元; (b)六管CMOS存储单元
第9章 存储器和可编程逻辑器件
读出操作时,行选线X和列选线Y同时为“1”,则存储信息Q和Q被读到I/O线和I/O线上。写入信息时,X、Y线也必须都为“1”,同时要将写入的信息加在I/O线上,经反相后I/O线上有其相反的信息,信息经V7、V8 和V5、V6加到触发器的Q端和Q端,也就是加在了V3和V1的栅极,从而使触发器触发,即信息被写入。
由于CMOS电路具有微功耗的特点,目前大容量的静态RAM中几乎都采用CMOS存储单元,其电路如图9-13(b)所示。 CMOS存储单元结构形式和工作原理与图 9-13(a)相似,不同的是图(b)中,两个负载管V2、V4改用了P沟道增强型MOS管, 图中用栅极上的小圆圈表示V2、V4为P沟道MOS管,栅极上没有小圆圈的为N沟道MOS管。
第9章 存储器和可编程逻辑器件
2. 动态随机存储器(DRAM)
动态RAM的存储矩阵由动态MOS存储单元组成。动态MOS存储单元利用MOS管的栅极电容来存储信息,但由于栅极电容的容量很小,而漏电流又不可能绝对等于0,所以电荷保存的时间有限。为了避免存储信息的丢失,必须定时地给电容补充漏掉的电荷。通常把这种操作称为“刷新”或“再生”,因此DRAM内部要有刷新控制电路,其操作也比静态RAM复杂。尽管如此,由于DRAM存储单元的结构能做得非常简单,所用元件少,功耗低,所以目前已成为大容量RAM的主流产品。
第9章 存储器和可编程逻辑器件
动态MOS存储单元有四管电路、三管电路和单管电路等。四管和三管电路比单管电路复杂,但外围电路简单,一般容量在 4 K以下的RAM多采用四管或三管电路。图 9-14(a)为四管动态MOS存储单元电路。图中,V1和V2为两个N沟道增强型MOS管,它们的栅极和漏极交叉相连,信息以电荷的形式储存在电容C1和C2上,V5、V6 是同一列中各单元公用的预充管,φ是脉冲宽度为 1μs而周期一般不大于2ms的预充电脉冲,CO1、CO2是位线上的分布电容,其容量比C1、C2大得多。
第9章 存储器和可编程逻辑器件
图 9-14 动态MOS存储单元
(a) 四管动态MOS存储单元; (b) 单管动态MOS存储单元
第9章 存储器和可编程逻辑器件
若C1被充电到高电位,C2上没有电荷,则V1导通,V2截止,此时Q=0,Q=1这一状态称为存储单元的0状态;反之,若C2充电到高电位,C1上没有电荷,则V2导通,V1截止, Q=1, Q=0, 此时称为存储单元的 1 状态。当字选线X为低电位时,门控管V3、V4均截止。在C1和C2上电荷泄漏掉之前,存储单元的状态维持不变,因此存储的信息