内容正文:
结型场效应管的特性曲线
结型场效应管的特性曲线
1. 转移特性(N 沟道结型场效应管为例)
O uGS
iD
IDSS
UGS(off)
uGS = 0 ,iD 最大;uGS 愈负,iD 愈小;uGS = UGS(off) ,iD 0。
两个重要参数
饱和漏极电流 IDSS(UGS = 0 时的 ID)
夹断电压 UGS(off) (ID = 0 时的 UGS)
UDS
iD
VDD
VGG
D
S
G
V
+
V
+
uGS
+
mA
IDSS/V
iD/mA
uDS /V
O
UGS = 0V
-1
-2
-3
-4
-5
-6
-7
预夹断轨迹
恒流区
可变电阻区
漏极特性也有三个区:可变电阻区、恒流区和夹断区。
输出特性(漏极特性)曲线
夹断区
UDS
iD
VDD
VGG
D
S
G
V
+
V
+
uGS
+
mA
击穿区
# JFET有正常放大作用时,沟道处于什么状态?
(2) 转移特性
UGS(off)
(1) 输出特性
结型场效应管
N
沟
道
耗
尽
型
P
沟
道
耗
尽
型
1.4.2 绝缘栅型场效应管MOSFE
Metal-Oxide Semiconductor Field Effect Transistor
由金属、氧化物和半导体制成。称为金属-氧化物-半导体场效应管,或简称 MOS 场效应管。
特点:输入电阻可达1010(有资料介绍可达1014)以上。
类型
N 沟道
P 沟道
增强型
耗尽型
增强型
耗尽型
UGS = 0 时漏源间存在导电沟道称耗尽型场效应管;
UGS = 0 时漏源间不存在导电沟道称增强型场效应管。
一、N沟道增强型MOS场效应管
漏极D→集电极C
源极S→发射极E
绝缘栅极G→基极B
衬底B
电极—金属
绝缘层—氧化物
基体—半导体
因此称之为MOS管
1、结构
1.4.2 绝缘栅场效应管
当UGS较小时,虽然在P型衬底表面形成一层耗尽层,但负离子不能导电。
当UGS=UGS(th)时, 在P型衬底表面形成一层电子层,形成N型导电沟道,在UDS的作用下形成iD.
2、N沟道增强型MOS场效应管工作原理
UDS
iD
+
+
-
-
+
+
-
-
+
+
+
+
-
-
-
-
UGS
反型层
当UGS=0V时,漏源之间相当两个背靠背的PN结,无论UDS之间加什么电压都不会在D、S间形成电流iD,即iD≈0。
当UGS>UGS(th)时, 沟道加厚,沟道电阻减少,在相同UDS的作用下,iD将进一步增加。
开始时无导电沟道,当在UGSUGS(th)时才形成沟道,这种类型的管子称为增强型MOS管
一方面
MOSFET是利用栅源电压的大小,来改变半导体表面感生电荷的多少,从而控制漏极电流的大小。
当UGS>UGS(th),且固定为某一值时,来分析漏源电压UDS的不同变化对导电沟道和漏极电流ID的影响。
UDS=UDG+UGS
=-UGD+UGS
UGD=UGS-UDS
当UDS为0或较小时,相当UGD>UGS(th) ,此时UDS 基本均匀降落在沟道中,沟道呈斜线分布。在UDS作用下形成ID。
另一方面,漏源电压UDS对漏极电流ID的控制作用
当UDS增加到使UGD=UGS(th)时,
当UDS增加到UGDUGS(th)时,
增强型MOS管
这相当于UDS增加使漏极处沟道缩减到刚刚开启的情况,称为预夹断。此时的漏极电流ID 基本饱和。
此时预夹断区域加长,伸向S极。 UDS增加的部分基本降落在随之加长的夹断沟道上,ID基本趋于不变。
漏源电压UDS对漏极电流ID的控制作用
UGD=UGS-UDS
3、N沟道增强型MOS场效应管特性曲线
iD=f(uGS)uDS=C
转移特性曲线
iD=f(uDS)uGS=C
输出特性曲线
uDS(V)
iD(mA)
当uGS变化时,RON将随之变化,因此称之为可变电阻区
恒流区(饱和区):uGS一定时,iD基本不随uDS变化而变化。
uGS/V
二、N沟道耗尽型MOS场效应管
+ + + + + + +
耗尽型MOS管存在
原始导电沟道
1、结构
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