内容正文:
差放性能指标—归纳总结
差放性能指标—归纳总结
Rid与电路输入、输出方式无关。
Rod仅与电路输出方式有关。
Avd仅与电路输出方式有关。
Avc仅与电路输出方式有关。
双端输出
单端输出
双端输出
单端输出
双端输出
单端输出
其中
其中
共模抑制比
KCMR是用来衡量差分放大器对共模信号抑制能力的一项重要指标,其值越大越好。
定义
双端输出电路
单端输出电路
提高IEE(即增大gm)、增大REE
提高KCMR
普通差放存在的问题:
采用恒流源的差分放大器
REE
KCMR 抑制零点漂移能力
但IEE Q点降低 输出动态范围
T1
VCC
vi1
vo
VEE
vi2
RC
RC
T2
R1
R2
R3
T3
其中
很大
双端输出时
单端输出时
任意输入时,输出信号的计算
其中
其中
例:图示电路,已知 =100,vi=20sint(mV),求vo
解:
T1
VCC
REE
vi
vo
VEE
RC
RC
T2
RL
22.6k
10k
10k
(12V)
(-12V)
(1)分析Q点
(2)分析Avd2 、Avc2
由于
则
(3)计算vo
由于
则
4.4.3 电路两边不对称对性能的影响
实际差分放大器,电路不可能做到完全对称:
双端输出时的KCMR
T1、T2两管集电极电阻RC不相等
或T1、T2两管的 及VBE(on)不对称
例如
产生运算误差
理想情况
实际情况
由于
则
因此
由两管参数不对称(如VBE(on)、IS、RC不等)引起失调。
失调及其温漂
输入失调电压VIO
T1
T2
实际差放
+
-
VO0
零输入时
等效为
理想差放
+
-
VO
VIO
+
-
从等效的观点看:
VIO就是使VO=0时,在实际差放输入端所加的补尝电压。
失调电压
VIO产生原因:
两管不等,造成 ICQ1 ICQ2
输入失调电流IIO
从等效的观点看:
IIO就是使ICQ1= ICQ2时,在实际差放输入端所加的补尝电流。
失调电流
IIO产生原因:
T1
VCC
REE
VEE
RC
RC
T2
RS
RS
IBQ1
IBQ2
若取
则
失调模型
T1
T2
- +
IB
IB
IIO
2
IIO
2
VIO
RS
RS
总输入失调电压
当RS较大时:
当RS较小时:
失调以IIO为主,为减小VIO ,应选IIO小的差放。
失调以VIO为主,为减小VIO,应选VIO小的差放;
调零电路
T1
VCC
REE
VEE
RC
RC
T2
RS
RS
VEE
+ -
VO
RW
(发射极调零电路)
T1
VCC
REE
RC
RC
T2
RS
RS
VEE
+ -
VO
RW
(集电极调零电路)
调节电位器RW ,改变两端发射极电位或集电极电阻,使静态工作时双端输出电压减小到零。
VIO和IIO的温漂
若环境温度、电源电压等外界因素变化:
三极管参数变化
VIO和IIO变化。
其中温度变化引起的温漂最大。
可以证明:
注意:调零电路可以克服失调,但不能消除温漂。
MOS差放的失调
因
则
(mV量级)
由两管参数(如W/l、VGS(th) )及RD不匹配引起失调。
VIO产生原因:
注意: MOS管差放的VIO >>三极管差放的VIO
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