内容正文:
晶体三极管小信号电路模型
电路放大交流小信号时,在Q点附近的小范围内,可忽略不计非线性,可近似用一段直线来代替伏安特性曲线,从而获得线性化的电路模型,即小信号(或微变)电路模型。
晶体三极管小信号电路模型
三极管作为四端网络,选择不同的自变量,可以形成多种电路模型(H、Y、T、Z、Π型)。最常用的是混合Π型小信号电路模型(仅在放大模式下有意义)。
截止区:VBE < 0.7V
IC /mA
VCE /V
0
IB = 40 A
30 A
20 A
10 A
0
特点:
条件:
(发射)EB结反偏,(集电)CB结反偏。
工程上,IB 0,(2-1-14)IC=IE=ICEO0,
近似为IB≤0以下区域
严格说(理论),截止区是IE =0即IB =-ICBO以下的区域。因为,IB 在0 -ICBO时,仍满足:IC =ICBO
书:P60图。
(2-1-7)
饱和区( VCE<0.3V )
发射结正偏,集电结正偏或反偏电压很小。
IC不受IB控制,而受VCE影响(0~0.3V)。
VCE略 0~0.3V增加,IC就显著增加(陡峭)。
条件:
特点:
密集陡峭
IC明显受横轴VCE控制的区域。
IC /mA
VCE /V
0
IB = 40 A
30 A
20 A
10 A
0
-0.7, 0~0.3
P61:分界线!=0.3V,VCE负半轴,反/正,则反向工作模式。
IC /mA
VCE /V
0
IB = 40 A
30 A
20 A
10 A
0
VCE(SAT)随IB增大而逐渐增大。
VCE=VBE + (VCB+V体电阻、引线电阻 ),
IB越大 IC越大(大功率 ) V体电阻+V串联电阻 越大 VCE越大。
近似认为,所有VCE(SAT)=0.3V
(VCE>0.3V放大区)
4、击穿区
特点:
VCE增大到一定值时,IC急剧增大,因集电结反向击穿。
基区穿透击穿(发生在短基区器件)
CB结雪崩击穿(主要)
两种击穿机理
IC /mA
VCE /V
0
IB = 40 A
30 A
20 A
10 A
0
IB = -ICBO (IE = 0)
IB = 0 (IE = IC = ICEO)
集电结反向击穿电压,随IB的增大而减小。
注意:
IB = 0时,击穿电压V(BR)CEO
IE = 0时,击穿电压为V(BR)CBO
V(BR)CBO > V(BR)CEO
V(BR)CEO
IC /mA
VCE /V
0
IB = 40 A
30 A
20 A
10 A
0
V(BR)CBO
O代表第三个电极开路。
V(BR)CEO — 基极开路,集电极和发射极间击穿电压。
三、极限参数(要求安全、不失真工作)
IC
VCE
0
V(BR)CEO
ICM
PCM
(1)最大允许集电极电流ICM
(若IC>ICM 造成 )
VCE<V(BR)CEO
(2)最大允许集电极耗散功率PCM
( PCM= ICVCB≈ICVCE ,若PC> PCM 烧管)
PC<PCM
要求
IC ICM
因发射结正偏0.7V,呈低阻,所以,集电极电流通过集电结时,所产生的功耗PCM主要集中在集电结上。在计算时往往用VCE取代VCB。
(4)反向击穿电压V(BR)CEO 、V(BR) EBO 与V(BR)CBO比较:
(3)反向击穿电压V(BR)CEO
(若VCE>V(BR)CEO 管子击穿)
V(BR)CBO≈V(BR)CES>V(BR)CER>V(BR)CEO>V(BR) EBO
V(BR)CER: BE间接有电阻。
V(BR)CES :BE间是短路的。几个击穿电压大小关系:
反向击穿电压:表示三极管电极间承受反向电压的能力。测试原理电路图如下。
小结
1. 晶体管的特性曲线
①输入特性曲线
②输出特性曲线
2. 晶体管的参数
①直流参数:
②交流参数:β、α、fT
③极限参数:PCM、ICM、V(BR)CEO
3. 温度对晶体管特性及参数的影响。
纯交流量:小写字母、小写下标表示。如, vce、ib等。
直流量:大写字母、大写下标表示。如,VCE、IC、 VCEQ、ICQ等。
总瞬时量(含交流、直流):小写字母、大写下标表示。如vCE、iB等。
相量:上方有圆点的大写字母、小写下标表示。 如, 、 等。
P64,有关符号的约定
看:(2-5-1)
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