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本征半导体的导电机理
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本征半导体的导电机理
本征半导体中存在数量相等的两种载流子,即自由电
子和空穴。
温度越高载流子的浓度越高本征半导体的导电能
力越强。
本征半导体的导电能力取决于载流子的浓度。
电流:空穴电流的方向与运动方向一致,
电子电流的方向与运动方向相反。
---总电流方向仍然一致。
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归纳
3、杂质半导体中起导电作用的主要是多子。
4、N型半导体中电子是多子,空穴是少子;
P型半导体中空穴是多子,电子是少子。
1、杂质半导体中两种载流子浓度不同,分为多数载流子和少数载流子(简称多子、少子)。
2、杂质半导体中多数载流子的数量取决于掺杂浓度,少数载流子的数量取决于温度。
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一、 PN结的形成
因浓度差多子的扩散运动形成空间电荷区空间电荷区形成内电场内电场促使少子漂移内电场阻止多子扩散多子的扩散和少子的漂移达到动态平衡形成PN结
多子扩散
少子漂移
PN结
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PN结建立在N型和P型半导体的结合处,由于扩散运动,失空穴和电子后形成不能移动的负离子和正离子状态。
PN结称为
---空间电荷区
耗尽层
阻挡层
PN结很窄(几个到几十个 m)。
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空间电荷区中没有载流子。
空间电荷区中内电场阻碍多子( P中的
空穴、N中的电子) 的扩散运动。
半导体中有 两种电流
漂移电流(Drift Current):由载流子的漂移运动形成的电流
扩散电流(Diffusion Current):由载流子的扩散运动形成的电流
PN区少子浓度很小,因此形成的漂移电流很小。
空间电荷区中内电场推动少子( P中的
电子、N中的空穴) 的漂移运动。
归纳
漂移运动:由电场力引起的载流子定向运动
扩散运动:由于载流子浓度不均匀(浓度梯度)造成的运动
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1) PN结正向偏置
特点
外电场与内电场方向相反(削弱内电场),使 PN结变窄。
扩散运动>漂移运动。
PN结电阻小, 电流大,正向导通。
I的大小与外加电压有关
正向偏置:阳极P接电源正极,阴极N接电源负极
二、PN结的单向导电性
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特点:
外电场与内电场方向相同(增强内电场),使PN结变宽。
扩散运动<漂移运动
结电阻大,反向电流很小,反向截止
I 反的大小与少子的数量有关,与温度有关。
2) PN结反向偏置
反向偏置:阳极P接电源负极,阴极N接电源阳极
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PN结的单向导电性
正向特性
反向特性
归纳
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外电场削弱内电场,PN结电阻小,电流大,导通;
I的大小与外加电压有关;
外电场增强内电场,结电阻大,反向电流很小,截止;
I反的大小与少子的数量有关,与温度有关。
P(+),N(-)
P(-),N(+)
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三、PN结的电流方程
式中,UT=kT/q,称为电压温度当量,与温度成正比,
T=300K时,UT=26mV。
IS为反向饱和电流
正向特性:u>0,u↑→i↑,u>>UT时, 按指数规律快速增加。
反向特性:u<0, |u|>>UT 时,i≈-IS,恒定不变。
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四、 PN结的伏安特性
u
i
U(BR)
0
正向特性:u>0,u↑→i↑,u>>UT时, 按指数规律快速增加。
反向特性:①u<0, |u| >>UT 时,i≈-IS,恒定不变。
② |u|↑>U(BR)时,| i |急剧增加-反向击穿。
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①齐纳击穿:PN结很薄,反向电压大时,电场强度很大,破坏共价键,价电子→自由电子,载流子数↑↑,反向电流↑↑。
②雪崩击穿:电场增强,漂移速度加快,撞击价电子,价电子获得能量,→自由电子空穴对,参加漂移,再撞击其它的价电子,形成连锁反应,使载流子数↑↑,反向电流↑↑。
电击穿:当 |u |↓→自由电子变回价电子→反向电流↓。可逆。
热击穿:电流很大,烧坏PN结。不可逆。
反向击穿的原因:
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