第2章《分子结构与性质》单元检测题2022-2023学年下学期高二化学沪科版（2020）选择性必修2物质结构与性质

第2章《分子结构与性质》单元检测题 一、单选题 1．已知黑铜泥主要含，还含有少量Sb、Bi、Pb、Ni等。黑铜泥酸浸和碱浸制取砷酸铜的工艺流程如下： 下列说法中正确的是 A．“酸浸”生主要反应之一为，每1 mol 被浸取，转移电子的物质的量为 B．“沉砷酸铜”过程中不断加NaOH溶液的目的是减小浓度，提高砷酸铜的产率 C．基态比稳定 D．为三元弱酸，的VSEPR模型是平面三角形 2．甲硫氨酸是构成人体的必需氨基酸之一，结构简式如图所示。下列有关说法正确的是 A．第一电离能：O>N>C>H B．基态氧原子的电子有8种空间运动状态 C．甲硫氨酸分子中碳原子的杂化类型有sp2和sp3 D．甲硫氨酸分子间不能形成氢键 3．设为阿伏加德罗常数的值。下列说法正确的是 A．2.24 L 所含σ键的数目为 B． 溶液中所含的数目小于 C．10 g质量分数为46%的乙醇溶液中，氧原子总数无法确定 D．1 mol白磷()中含有个共价键 4．下列说法错误的是 A．酸性： B．1，4-环己二烯()分子中键与键的数目之比为6：1 C．向的溶液中滴加足量溶液，只有的形成AgBr沉淀 D．HF气体的摩尔质量测定值大于实际值，与HF分子间形成氢键有关 5．现有5种元素X、Y、Z、Q、T。X原子M层上有2个未成对电子且与Q同一主族；Y原子的价电子排布式为3d64s2；Z原子的L电子层的p能级上有一个空轨道，Q原子的L电子层的P能级上只有一对成对电子；T原子的M电子层上p轨道半充满。下列叙述不正确的是 A．T的一种单质的空间构型为正四面体形 B．1mol[Y(CO)5]分子中含5molσ键 C．X和Q结合生成的一种化合物为平面三角形 D．Z与Q互为等电子体，1molQ中含有的π键数目为2NA 6．磷酸氯喹在细胞水平上能有效抑制新型冠状病毒的感染，其结构如图所示。下列说法错误的是 A．基态Cl原子的核外电子有17种运动状态 B．C、N、O、P四种元素中电负性最大的是O C．分子中磷原子的价层电子对数为4 D．该有机物中N的杂化方式只有一种 7．一种新型过渡金属螯合物离子的结构如图所示，X、Y、Z、M是原子序数依次增大的短周期非金属元素，基态M原子的2p轨道上只有1个未成对电子，基态Q3+的3d轨道上只有1对成对电子。下列说法正确的是 A．该离子中Q的d轨道都参与了成键 B．简单氢化物的沸点：Y>Z>M C．第一电离能：X>Y>Z D．Y可以形成分子式为H2YO2的含氧酸 8．元素周期表中VIA族元素单质及其化合物有着广泛应用。O2可用作氢氧燃料电池的氧化剂；O3具有杀菌、消毒、漂白等作用。硫有多种单质，如斜方硫(燃烧热为297kJ•mol-1)、单斜硫等，硫或黄铁矿(FeS2)制得的SO2可用来生产H2SO4。用SO2与SeO2的水溶液反应可制备硒；硒是一种半导体材料，在光照下导电性可提高近千倍。下列说法正确的是 A．基态氧原子价电子的轨道表示式为 B．斜方硫和单斜硫互为同素异形体 C．SO2是由极性键构成的非极性分子 D．SeO2分子中O－Se－O的键角大于120° 9．短周期主族元素X、Y、Z、W的原子序数依次增大，X和W同主族。X、Y、Z形成的化合物是一种具有发展前景的“绿色”化工产品，其结构如图所示。下列说法错误的是 A．简单离子半径：W＜Z B．Y的氢化物沸点一定比Z的氢化物高 C．W与Z可形成既含离子键、又含共价键的化合物 D．X、Y、Z、W四种元素组成的一种化合物水溶液可能显碱性，可治疗胃酸过多 10．下列关于键和键的说法错误的是 A．键都有方向性，键都有饱和性 B．两个成键原子之间最多有一个键 C．分子中存在键，电子云图象呈轴对称 D．分子中有两个键，且相互垂直 11．下列说法不正确的是 A．同种原子的原子轨道能量：1s＜2s＜3s＜4s B．在电子云图中，用小黑点表示绕核做高速圆周运动的电子 C．原子中，电子从的状态跃迁到的状态时，将释放能量 D．和的VSEPR模型相同 12．CO的催化氧化在消除环境污染、净化空气等方向有重要作用。最新研究发现：常温下，CO在Au/BN表面很难被氧化，但在的参与下反应很容易发生，其转化示意图如图所示。下列说法错误的是 A．和均含极性共价键，但两者分子的极性不同 B．过程①有氢键形成 C．催化剂能加快反应速率，但不能改变反应的焓变 D．在和Au/BN的共同作用下，CO被氧化破坏了氢键 13．我国药学家屠呦呦因发现植物黄花蒿茎叶中含抗疟疾的物质——青蒿素而荣获2015年诺贝尔奖。科学家对青蒿素的结构进行进一步改良，合成药效更佳的双氢青蒿素、蒿甲醚。 下列说法错误的是 A．利用黄花蒿茎叶研究青蒿素结构的基本步骤：分离、提纯→元素分析确定实验式→测定相对分子质量确定分子式→波谱分析确定结构式 B．可用X射线衍射测定