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多能谷散射 耿氏效应
多能谷散射 耿氏效应
由于GaAs材料导带具有多能谷结构,而最低能谷和
次低能谷间的能量间隔较小,当电场强度达到一定
程度时,最低能谷的电子从电场中获得能量,使其
与次能谷的能量相当时,即会发生谷间散射,低能
谷 中的电子向高能谷中转移,并且随电场的进一步
增加,转移的电子越多,高能谷中的电子的有效质
量远大于低能谷的有效质量,两个能谷中的电子的
迁移率不同,高能谷的电子的迁移率很小,当电子
从低能谷转移到高能谷时,电子的平均漂移速度减
小,电导下降,因而在这个区域内会出现微分负电
阻现象。
在强电场下:
载流子的平均能量>>热平衡状态时的
载流子和晶格系统不再处于热平衡状态
载流子温度Te
晶格温度Tl
电场不是很强时:
载流子
声学波
电场进一步增强后:
载流子
光学波
极值点在坐标原点:
mn*=0.068mo
极值点在(100):
mn*=1.2mo
称此效应为负阻效应
假设在τ时间内,电子交给晶格的能量为△E:
(1) 较强电场
电子与晶格的碰撞主要是电子与声学声子碰撞,把声学声子看成质量为M的小球。
碰撞后,电子失去的能量为:
(U为声子速度)
设电子温度等于晶格温度时的迁移率为μo
(2) 强电场
设光学声子的频率为νo
散射后电子的能量变化为:
→ V与ε无关
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