内容正文:
热平衡态半导体中载流子的统计分布
计算本征半导体(intrinsic semiconductor)和杂质半导体(extrinsic semiconductor)的热平衡状态时载流子浓度及费米能级位置,讨论载流子浓度、费米能级与杂质浓度、温度的关系
导带
价带
T
载流子分布
载流子影响因素
主要内容
§3.1 热平衡状态
§3.2 状态密度
§3.3 热平衡态时电子在量子态上的分布几率
§3.4 热平衡时非简并半导体的载流子浓度
§3.5 本征半导体的费米能级和载流子浓度
§3.6 非简并杂质半导体的载流子浓度
§3.7 简并半导体(degenerate semiconductor)
§3.1 热平衡状态
在一定的温度T下,存在:
载流子产生过程
——本征激发
——杂质激发
载流子复合过程
——电子从导带回到价带或杂质能级上
一、热平衡状态
Ec
Ev
产生
复合
ED
载流子浓度保持稳定 →热平衡状态
无外来作用(光、电、磁等)
载流子数目决定于:
●允许电子存在的量子态按能量如何分布的? ——状态密度g(E) =dZ/dE
●电子是按什么规律分布在这些允许电子存在的量子态中? f(E)
二、热平衡时载流子的浓度
导带
价带
导带中单位能量间隔含有的状态数为gc(E)
——导带的状态密度
假设:
能量为E的每个状态被电子占有的几率为f(E)
在能量dE内的状态具有的电子数为:f(E)gc(E)dE
那么:
整个导带的电子数N为:
式中Ec'为导带顶的能量
若晶体的体积为V,那么电子的浓度为:
空穴占据能量为E能级的几率为:1-f(E)
空穴的浓度p为:
式中Ev'为价带底的能量
gv(E)为价带中单位能量间隔含有的状态数
——价带的状态密度
§3.2 状态密度
状态密度(density of state,DOS)
状态密度是能带中能量E附近单位能量间隔内的量子态数目
能带中能量E+dE之间有dZ个量子态,则状态密度为:
状态密度的计算
k空间的状态密度——单位k空间体积内的量子态数
单位能量间隔dE对应的k空间体积
单位能量间隔dE对应的量子态数dZ,计算状态密度g(E)
量子态在波矢空间的分布
能量E ~ 量子态Z的关系
能量E ~ 波矢k的关系
x
x+L
一、理想晶体的k空间的量子态分布
1.一维晶体
设它由N个原子组成,晶格常数为a,晶体的长为L,起点在x处
a
L=a×N
在x和x+L处,电子的波函数分别为φ(x)和φ(x+L)
φ(x)=φ(x+L)
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