内容正文:
半导体表面及同质、异质接触
Semiconductor Physics
*表面态及表面电场效应
*半导体同质接触-PN结
*MIS结构及电容-电压特性(C-V)
*金半接触及电流整流特性(I-V)
(课时少,但非常重要和有用,建议加强课后自学)
表面态与表面电场效应
By increasing miniaturization in semiconductor-device technology, the interface itself is the device!
Kroemer, the 2000 Nobel
winner of physics
1928年出生于德国.1952年获得德国哥廷根大
学理论物理学博士学位.他的博士论文的题目
是在晶体管中热电子的效应,这成为他从事半
导体物理和半导体设备研究职业生涯的开端.
现为加州圣巴巴拉加州大学的物理学教授。
达姆在1932年用量子力学严格证明,晶体的自由表面的存在,使得周期性势场在表面处发生中断,引起附加能级,电子被局域在表面附近,这种电子状态称为表面态,所对应的能级为表面能级。每个表面原子对应一个能级,组成表面能带
从化学键方面分析,在晶体最外层的原子存在未
配对的电子,即未饱和的键--悬挂键,与之对
应的电子能态就是表面态。
1、未饱和的键--悬挂键dangling band
“理想表面”就是指表面层中原子排列的对称性与体内原子完全相同,且表面上不附着任何原子或分子的半无限晶体表面。
但在实际中,理想表面是不存在的,即使在绝对清洁的半导体表面,由于表面对称性破坏,原子所受的势场作用完全不同于体内,实验中观测到原子发生再构现象,以达到能量的最小化。
例如,对硅(111)面,在超高真空下可观察到
(7×7)结构,即表面上形成以(7×7)个硅原子
为单元的二维平移对称性结构。
硅表面7× 7重构的原子照片
由于悬挂键的存在,表面可与体内交换电子和空穴。如n型硅的清洁表面带负电。
如下图所示:
Si
Si
Si
Si
Si
Si
硅表面悬挂键示意图
表面悬挂键
1015cm-2
从硅表面态的实验测量中,证实其表面能级由两组组成:
一组为施主能级,靠近价带;
另一组为受主能级,靠近导带。
除了上述表面态外,在表面处还存在由于晶体缺陷或吸附原子等原因引起的表面态。
2、表面缺陷和吸附原子
目前,对硅表面态的研究比较多,表面态在禁带
的分布有一定的了解,但对具体的工艺重复性比
较差,最急待研究的是Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体的
表面态情况,对微电子的发展具有重要意义。
这种表面态的特点是,其表面态的大小与表面经过的处理方法有关;而达姆表面态对给定的晶体在“洁净”表面时为一定值大约为1015cm-2(每个表面原子对应禁带中的一个能级),实际上由于表面被其它原子覆盖,表面态比该值小得多,为1010~1015cm-2 。
表面态对半导体各中物理过程有重要影响,特别是对许多半导体器件的性能影响更大。
3、表面态的影响
表 面 电 场 效 应
在外加电场作用下,在半导体的表面层内发生的
物理现象,主要载流子的输运性质的改变。
可以采用不同方法,使得半导体表面层内产生电
场,如:功函数不同的金属和半导体接触(金/
半接触)、使半导体表面吸附某种带电的离子、金属/绝缘体/半导体(MIS)结构等。
3、第一个实际的半导体器件就是点接触整流性
的金半接触,就是将细须状金属压在半导体表面
。从1904年起,该器件有许多不同的应用。
1938年,Schottky提出其整流作用,可能由半导体中稳定的空间电荷区所产生的电势能差引起的,由此所建立的模型称肖特基势垒(Schottky barrier).
4、两个要点:
①功函数和禁带宽度的不同金属/半导体接触能带图的变化;
②肖特基接触的整流特性即电流-电压I-V特性。
金属和半导体的功函数Wm 、Ws
1、金属的功函数Wm
表示一个起始能量等于费米能级的电子,由金属内部逸出到表面外的真空中所需要的最小能量。
E0
(EF)m
Wm
E0为真空中静止电子的能量,又称为真空能级。
金属铯Cs的功函数最低1.93eV,Pt最高为5.36eV
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