内容正文:
耗尽型MOS场效应管
一、N沟道耗尽型MOS场效应管结构
耗尽型MOS场效应管
+ + + + + + +
耗尽型MOS管存
在原始导电沟道
耗尽型MOS管
二、N沟道耗尽型MOS场效应管工作原理
当VGS=0时,VDS加正向电压,产生漏极电流iD,此时的漏极电流称为漏极饱和电流,用IDSS表示。
当VGS>0时,将使iD进一步增加。
当VGS<0时,随着VGS的减小漏极电流逐渐减小,直至iD=0,对应iD=0的VGS称为夹断电压,用符号VP表示。
VGS(V)
iD(mA)
VP
N沟道耗尽型MOS管可工作在VGS0或VGS>0
N沟道增强型MOS管只能工作在VGS>0
耗尽型MOS管
三、N沟道耗尽型MOS场效应管特性曲线
输出特性曲线
VGS(V)
iD(mA)
VP
转移特性曲线
各类绝缘栅场效应三极管的特性曲线
绝缘栅场效应管
N
沟
道
增
强
型
P
沟
道
增
强
型
绝缘栅场效应管
N
沟
道
耗
尽
型
P
沟
道
耗
尽
型
各类绝缘栅场效应三极管的特性曲线
场效应管的主要参数
2. 夹断电压VP:是耗尽型FET的参数,当VGS=VP 时,漏极电流为零。
3. 饱和漏极电流IDSS
耗尽型场效应三极管当VGS=0时所对应的漏极电流。
1. 开启电压VT:MOS增强型管的参数,栅源电压小于开启电压的绝对值,场效应管不能导通。
4. 直流输入电阻RGS:栅源间所加的恒定电压VGS与流过栅极电流IGS之比。结型:大于107Ω,绝缘栅:109~1015Ω。
5. 漏源击穿电压V(BR)DS: 使ID开始剧增时的VDS。
6.栅源击穿电压V(BR) GS
JFET:反向饱和电流剧增时的栅源电压
MOS:使SiO2绝缘层击穿的电压
7. 低频跨导gm :反映了栅源压对漏极电流的控制作用。
8. 输出电阻rds
9. 极间电容
Cgs—栅极与源极间电容
Cgd —栅极与漏极间电容
Csd —源极与漏极间电容
场效应管的主要参数
作业
P249 - 5.1.1
P249 - 5.1.3
10
微分运算电路与积分运算电路
一、 微分运算
u i
–
+
+
uo
R
R2
i1
iF
C
若输入:
则:
ui
t
0
t
0
uo
第八章 信号运算和处理电路
三角形势阱
z
x
y
低掺杂
散射小
MOSFET的主要参数
一、直流参数
NMOS增强型
1. 开启电压VT (增强型参数)
2. 夹断电压VP (耗尽型参数)
3. 饱和漏电流IDSS (耗尽型参数)
4. 直流输入电阻RGS (109Ω~1015Ω )
二、交流参数
1. 输出电阻rds
当不考虑沟道调制效应时,=0,rds→∞
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