内容正文:
杂质对半导体导电性的影响
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T=300 K室温下,本征硅的电子和空穴浓度:
n = p =1.4×1010/cm3
本征硅的原子浓度: 4.96×1022/cm3
以上三个浓度基本上依次相差106/cm3 。
掺杂后 N 型半导体中的自由电子浓度:
n=5×1016/cm3
杂质对半导体导电性的影响
掺入杂质对本征半导体的导电性有很大的影响,典型的数据如下:
第二章 半导体二极管及其基本电路
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N 型半导体的形成:
在硅或锗晶体中掺入少量
的五价元素磷(或锑),
磷原子的最外层中四个价
电子与相邻的半导体原子
形成共价键,多出的一个电子几乎不受束缚,很容易被激发而成为自由电子,这样磷原子失去一个电子而成为不能移动的带正电的离子(施主离子)
+4
+4
+5
+4
第二章 半导体二极管及其基本电路
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P 型半导体的形成:
在硅或锗晶体中掺入少量
的三价元素硼(或铟),
硼原子最外层的三个价电
子与相邻的半导体原子形
成共价键,同时产生一个
空位。这个空穴极易吸引束缚电子来填补,使得硼原子成为不能移动的带负电的离子(受主离子) 。
+4
+4
+3
+4
第二章 半导体二极管及其基本电路
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思考:N 型半导体(或P 型半导体)中的两种载流子数量是否相等?
杂质半导体中载流子的来源:由杂质原子提供的电子或空穴,浓度与杂质原子相同;由于本征激发产生的电子和空穴对,数量少且成对出现。
掺杂浓度远大于本征半导体中载流子浓度,所以,在N型半导体中,自由电子浓度远大于空穴浓度。自由电子称为多数载流子(多子),空穴称为少数载流子(少子)。
在P型半导体中,空穴浓度远大自由电子于浓度。空穴称为多数载流子(多子),自由电子称为少数载流子(少子)。
第二章 半导体二极管及其基本电路
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杂质半导体的示意表示法
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P 型半导体
+
+
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+
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+
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+
+
+
+
+
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+
+
+
+
+
+
+
N 型半导体
第二章 半导体二极管及其基本电路
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本征半导体、本征激发
本节小结
自由电子
空穴
N型半导体、施主杂质(5价)
P型半导体、受主杂质(3价)
多数载流子、少数载流子
杂质半导体
*半导体导电特点1:其能力容易受温度、光照等环境因素影响
温度↑→载流子浓度↑→导电能力↑
*半导体导电特点2:掺杂可以显著提高导电能力
第二章 半导体二极管及其基本电路
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§2.1 PN结的形成及特性
一、PN结的形成
在同一片半导体基片上,分别制造P 型半导体和N 型半导体,经过载流子的运动,在它们的交界面处就形成了PN 结。
载流子的运动:
扩散运动:由于浓度差产生的载流子移动
漂移运动:在电场作用下,载流子的移动
第二章 半导体二极管及其基本电路
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浓度差多子的扩散运动
扩散空间电荷区内电场
内电场少子的漂移运动阻止多子的扩散
扩散与漂移达到动态平衡
P区
N区
扩散:空穴
电子
漂移:电子
空穴
形成过程可分成4步。(动画)
内电场
第二章 半导体二极管及其基本电路
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空间
电荷区
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
N
P
内电场
对于P型半导体和N型半导体结合面,离子薄层形成的空间电荷区称为PN结。
在空间电荷区,由于缺少多子,所以也称耗尽层。
第二章 半导体二极管及其基本电路
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PN结形成的物理过程:
载流子浓度差
形成内电场
促使少子漂移
阻止多子扩散
多子的扩散和少子的漂移达到动态平衡。
多子的扩散运动
形成空间电荷区
扩散 > 漂移
否
是
宽
第二章 半导体二极管及其基本电路
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外加正向电压,简称正偏
外加反向电压,简称反偏
扩散 > 漂移
大的正向扩散电流(多子)
低电阻 正向导通
漂移 > 扩散
很小的反向漂移电流(少子)
高电阻 反向截止
二、PN结的基本特性——单向导电性
第二章 半导体二极管及其基本电路
P型
N型
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