内容正文:
绝缘栅型场效应管(MOS管)
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绝缘栅型场效应管(MOS管)
特点:输入电流更小,输入电阻更大;便于集成
分类:增强型(N沟道、P沟道)
耗尽型(N沟道、P沟道)
一、N沟道增强型MOS管
结构:
N+
N+
s
g
d
B
P(衬底)
符号:
g
s
d
B
N沟道
g
s
d
B
P沟道
耗尽层
SiO2绝缘层
高掺杂
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由输出特性曲线,可得转移特性曲线。
① UGS(off) ≤ uGS≤0,且uGS越负,iD越小。
②在恒流区,uDS变化时,iD几乎不变,故不同的UDS对应曲线
几乎重合,只画一条即可。
③当uGS≤UGS(off)时,全夹断,iD=0。uGS=0对应的电流为IDSS
2.转移特性曲线
iD
IDSS
uGS
UGS(off)
0
-1
-2
-3
-4
uDS
iD
-4V
O
-3V
-2V
-1V
UGS=0
恒
流
区
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(UGS(off) ≤ uGS≤0)
根据半导体物理中对场效应管内部载流子的分析,可以得到
恒流区的电流方程:
IDSS:漏极饱和电流,uGS=0情况下产生预夹断时的ID
UGS(off):夹断电压(注意是一个负值)
IDSS
uGS
UGS(off)
0
-1
-2
-3
-4
iD
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1.工作原理
① GS间开路时
此时,d-s间有两个背靠背的PN结,
因此d-s间接什么电压,都不会有电
流产生。即此时不存在导电沟道。
②uGS>0,DS短接
此时,栅极接正,衬底接负,衬底中的
多子空穴被排斥到下方,上面形成耗尽
层。且uGS越大,耗尽层越宽。
N+
N+
耗尽层
P
d
g
s
uGS
B
通常源极和衬底是连在一起的
N+
N+
s
g
d
B
P(衬底)
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当uGS↑=UGS(th)时,衬底中的少子电子被吸引到耗尽层,
形成N型薄层,称为反型层。该反型层即导电沟道。
uGS再↑,则反型层加宽,沟道变宽。
N+
N+
反型层
P
d
g
s
uGS
B
UGS(th)称为开启电压。
③uGS>UGS(th),uDS>0
uDS很小时,uGD = uGS-uDS>UGS(th),由于S端
电压低于D端电压,故S端沟道宽,D端沟道
窄,沟道仍呈楔型。
沟道中的电子在uDS的作用下形成电流iD。
且uDS↑→iD↑,呈现电阻性。
电阻的大小与uGS有关
N+
N+
P
d
g
s
uGS
B
uDS
iD
大到一定值才开启
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uGS对iD的影响:uGS↑→沟道宽度↑→iD↑
当uDS↑→uGD=UGS(th)时,D端反型层消失,沟道被夹断,称为预夹
断(因S端未被夹断);
N+
N+
P
d
g
s
uGS
B
uDS
iD
N+
N+
P
d
g
s
uGS
B
uDS
预夹断后,uDS↑,夹断长度↑,uDS增加的电压大部分落在夹断区,
沟道上电压几乎不↑,故iD基本不↑,呈饱和性。
iD
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2.特性曲线与电流方程
输出特性曲线与结型类似,分为三个区。不同之处在于UGS(th) >0。
转移特性曲线与结型形状类似,但在第一象限,因UGS(th) >0。
IDO
iD
uGS
UGS(th)
O
2UGS(th)
转移特性曲线
输出特性曲线
uDS
iD
UGS=UGS(th)
O
UGS1
UGS2
UGS3=2UGS(th)
可变
电阻区
夹断区
预夹断轨迹uDS=uGS-UGS(th)
恒流区
IDO
方程:
★
★
IDO:uGS=2UGS(th) 时的ID
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二、N沟道耗尽型绝缘栅场效应管
情况与增强型类似。不同的只是开启电压不同。
增强型UGS(th)>0,耗尽型UGS(off)<0。
uGS<0的某个值UGS(off)时,反型层消失,沟道夹断。
故在uGS>UGS(off)时,在d-s间加正压,有电流iD产生。
结构与增强型类似,只不过在二氧化硅中加入大量正离子,
故在uGS=0时,即有反型层存在。
符号:
g
s
d
B
N沟道
g
s
d
B
P沟道
P
d
g
s
uGS
B
N
N
反型层
+ + + + +
+ + + + +
耗尽型MOS管在 uGS>0、 uGS <0、 uGS =0时均可导通,且与结型场效应管不同,由于SiO2绝缘层的存在,在uGS>0时仍保持g-s间电阻非常大的特点。
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uDS
iD
UGS=UGS(off) <0
O
UGS =0
可变
电阻区
夹断区
恒流区
iD
uGS
UGS(off)
O
特性曲线
输出特性曲线
转移特性曲线
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归纳:
MOS管的特性
1)增强型MOS管
2)耗尽型MOS管
开启电压
夹断电压
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例:P沟道结型场效应管的特性曲线
g
d
s
P沟道
iD
uGS
iD
IDSS
uGS
UGS(off)
P沟道
0<uGS<UGS(off),